Com um grande conjunto de recursos, esta SSD Intel® 3D NAND é otimizada para infraestruturas na nuvem, oferecendo incrível qualidade, confiabilidade, gerenciabilidade avançada e capacidade de manutenção para minimizar as interrupções ao serviço.

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Fator de forma : 2.5" 15mm

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SSD Intel® DC Série P4500 (2,0 TB, PCIe 3.1 de 2,5 pol x4, 3D1, TLC)

  • 2 TB Capacidade
  • 2.5" 15mm Fator de forma
  • PCIe NVMe 3.1 x4 Interface
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Recursos e benefícios

Inspirada na nuvem. Armazenamento otimizado.

As funções altamente eficientes possibilitam mais trabalho por servidor para redução de TCO, enquanto aumentam a agilidade para infraestruturas em nuvem.

Otimizado para a eficiência do armazenamento em nuvem

Esta SSD inspirada na nuvem é desenvolvida com um controlador NVMe* totalmente novo, otimizado para ler cargas de trabalho intensas e projetado para otimizar o uso da CPU. Com a SSD Intel DC Série P4500, os data centers podem aumentar o número de usuários, adicionar mais serviços e realizar mais cargas de trabalho por servidor. Agora você pode armazenar mais e saber mais.

Qualidade e confiabilidade impressionantes

Com a qualidade e a confiabilidade líderes do setor, você pode ter a segurança de que seus drives estão disponíveis e de que seu data center está protegido. O suporte para a criptografia data-at-rest minimiza a possibilidade de violações de dados, enquanto a proteção de ponta-a-ponta líder do setor reduz a possibilidade de erros de dados silenciosos.1

Gerenciabilidade e capacidade de manutenção avançadas

Desenvolvida com recursos de gerenciabilidade avançados, como NVMe-MI, a SSD Intel DC Série P4500 permite que você monitore, gerencie e faça correções remotamente em um número maior de estados de dispositivos, além de agilizar serviços essenciais.

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Informações de produto e desempenho

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Fonte - Intel. Proteção de dados completa se refere ao conjunto de métodos usados para detectar e corrigir a integridade dos dados no caminho completo conforme eles são lidos ou gravados entre o host, o controlador SSD e a mídia. Teste realizado em SSD Intel® DC S3520, SSD Intel® DC P3520, SSD Intel® DC P3510, SSD Intel® DC P4500, Samsung* PM953, Samsung PM1725, Samsung PM961, Samsung PM863, Micron* 7100, Micron 510DC, Micron 9100, HGST* SN100, Seagate* 1200.2, drives SanDisk* CS ECO. A alegação é baseada na média de taxas de erro de drive Intel em comparação à média de taxas de erros no drive da concorrência. A radiação de nêutrons é usada para determinar as taxas de corrupção silenciosa de dados e também como uma medida de eficiência geral da proteção de dados completa. Entre as causas da corrupção de dados em um controlador SSD estão a radiação ionizante, ruídos e interferência no sinal, e instabilidade de SRAM. Os erros foram medidos durante a execução e depois da reinicialização após o período de inatividade de uma unidade, comparando os dados esperados com os dados reais recebidos pela unidade. A taxa anual de corrupção de dados foi projetada com base na taxa durante testes acelerados dividida pela aceleração do feixe (consulte o padrão JEDEC JESD89A).