Ferramenta de varredura de limites
A arquitetura de teste de varredura de limites (BST) oferece a capacidade de testar com eficiência componentes em PCBs com espaçamento de chumbo apertado. Esta arquitetura BST pode testar conexões de pinos sem usar testes de teste físico e capturar dados funcionais enquanto um dispositivo está operando normalmente. As células de varredura de limites em um dispositivo podem forçar sinais em pinos ou capturar dados de sinais lógicos de pinos ou núcleos. Os dados de teste forçado são serialmente deslocados para as células de varredura de limites. Os dados capturados são deslocados serialmente e externamente em comparação com os resultados esperados.
As ferramentas de varredura de limites apresentam um recurso de programabilidade no sistema (ISP) que utiliza o controlador IEEE Standard 1149.1 para dispositivos Intel® FPGA, incluindo dispositivos MAX® II, MAX® 3000A, MAX® 7000AE e MAX® 7000B. Esses dispositivos também suportam a programação do IEEE 1532, que utiliza a interface de porta de acesso de teste padrão IEEE 1149.1 (TAP).
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